易捷测试提供的技术解决方案包括：半导体微波THz在片方案、光电芯片测试系统解决方案、高低温环境下的EMMI测试、硅光芯片晶圆级在片测量，X光辐照总剂量晶圆级测试系统（自主专利）、射频晶圆测试（WaferProbe）、射频芯片测试、晶圆到芯片封装设计验证分析检测设备、射频晶圆测试软件开发.高频自动探针台晶圆测试系统自动探针测试系统解决方案技术背景：集成电路目前是中国重点发展的项目，其中微波集成电路是无线通信，雷达和精确制导等军用系统的核心器件,其设计技术、工艺技术、测试技术、质量控制技术是支撑微波毫米波产品开发的关键！

　　目前微波毫米波技术主要注意力都集中在设计和工艺加工技术的提升上，关于微波毫米波测试需求也在向高端化发展，随着应用市场的发展，用户的要求越来越高，为保障装配的成品率，要求对所有的各类芯片进行充分测试，并提供测试数据。在高功率芯片领域，随着电动汽车，高铁，智能电网的发展，中国也需要改变核心元器件依靠进口的局面!对于毫米波段芯片，由于频段的升高，装配引起的寄生效应使得常规装配测量更无法准确反映芯片的实际性能，而下针的一致性要求，也要求剔除手动的方法。

射频晶圆测试检测设备

　　 深圳市易捷测试技术有限公司主营：晶圆测试等等产品，涉及其他未分类等等行业。 公司实力雄厚，重信用、守合同、保证产品质量，以多品种经营特色和薄利多销的原则，赢得了广大客户的信任。 多年来致力于其他未分类，拥有众多的专业人才，并通过多年以来不断的积累，在业界形成良好的口碑。 售后方面也赢得了用户的一致好评。您的满意是我们一直前进的动力。

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　　客户主要涵盖中国具有影响力的研究所、高校和具有研发实力的企业。公司拥有一批在半导体测试领域具有丰富经验的专业技术团队!该团队不仅能为客户提供高质量和全方位的解决方案，也能为客户提供系统化国产化改造服务！服务产业包括：半导体、材料研究、航天、电子元器件、汽车、光学器件！等!易捷测试紧跟趋势，拥有各类不同晶圆级测试探针台在片集成技术！为各大高校，研究院，企业提供集成电路晶圆测试（WaferProb）系统集成解决方案，设计验证分析，测试软件开发服务。

　　硅光子晶圆测试系统硅光子学能够使用光信号而不是电信号高速传输大量数据！硅光子市场正在为数据中心，汽车和其他应用增长动力，因为它可以使用硅半导体制造技术，经济高效地创建光学器件-降低功耗和尺寸。根据InkwoodResearch的数据，预计2017年至2025年全球硅光子市场将以23％的复合年增长率增长!深圳市易捷测试技术有限公司集成世界上可与Cascade(FormFactor)匹敌的MPI硅光子测量TS3000-SiPH及测量软件，提供业界领先的自动对准和同步光学和光电设备测试啦能！

　　该系统的主要功能是对小信号和大功率器件进行全自动在片测试，提高测试环境和测试动作的一致性，提高测试合格率；对探针扎针高度进行精密的自动控制；对仪器进行自动测试控制；对测试数据进行实时判断和分析保存；进行对应的MAP图管理、打点等常规以及特殊订制操作；为设计、生产、测试部门提供及时完整的测试分析数据进行质量跟踪反馈；为测试数据提供安全可靠的存储和大数据分析。通过对wafermap图的管理，我们可以将测试数据管理到die，并打通产线，将数据跟踪到分选后的贴片环节.