深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。公司长期与国外多家先进半导体设备公司合作，先后引进美国、欧洲、日本、台湾等世界品牌厂商设备与技术，同时致力于供应国产自主可控半导体设备，整合国内用户需求，打造国内晶圆级在片测试，半导体封装工艺系统集成的稳定供应链，提供“量体裁衣”定制化改造服务。易捷测试提供AOI-wafer光学检查机晶圆光学检查机，简称AOI，可取代人工检查，达到检测一致性并缩短检测时间，大幅提升产能与产品质量的重要关键，操作员不接触wafer，避免了污染和损伤wafer。检查晶圆类别：崩边、破裂、划痕、刮伤、变色、保护层缺失、外来物、桥接等。

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