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OMS材料物理光学属性测量仪_光学

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OMS2材料物理光学属性BRDF测量仪,用于测量光学材料表面BRDF光学属性以及材料体光学属性,测量出的数据经过OMS2数据处理软件的拟合,得出.BRDF格式的文件,这些文件都携带了材料的表面光学属性和体光学属性。这些数据文件可在OMS2支持软件中直接读取,在OMS2支持软件的协助下完成杂散光仿真分析处理。国内外用户有拜尔材料、洛克希德马丁、NASA、三星、LG、航天508所、中航工业上海航空电器有限公司等。设备组成OMS2材料BRDF光学属性高精测量系统由OMS2测量仪、数据处理工作站、OMS4数据处理软件。注:B2DF的解释双向反射分布函数(BidirectionalReflectiondistributionfunction,BSDF)是研究物体表面粗糙度之光学性质。由于物体表面上有凹凸不平的微小表面,一束入射光线射到表面而产生反射现象,用BRDF来表示这种反射(散射)现象。其中双向(Bidirectional)系指入射光与接受散射光的方向,因不同的入射光角度所产生的散射性质亦不相同。BRDF主要应用在计算机仿真物体表面明亮度,与真实人眼所看物体之明亮度相符;另外可应用在背光模块之光学模拟,例如扩散膜之散射性质。测量波段OMS2测量系统可获得测量、提取材料在可见光以及近红外波段的光学属性,具体测量波段是400nm—670nm

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