西南交通大学是教育部直属，进入国家“211工程”和“985工程优势学科创新平台”建设，口碑好的绝缘子综合耐候老化试验装置销售,侵水试验装置相关，以轨道交通为特色、工科为优势、多学科协调发展的全国重点大学。拥有西南地区唯一“优秀”等级国家重点实验室——牵引动力国家重点实验室，口碑好的绝缘子综合耐候老化试验装置销售,提供其他试验机，并正在筹建西部高校唯一的国家实验室——轨道交通国家实验室。近年来，学校紧紧围绕国家轨道交通事业的进步与发展，在轨道交通、磁浮交通、高速铁路、大型桥梁隧道、现代交通信息等研究领域取得了重大突破，诞生了以“机车车辆整车滚动振动试验台”、“高温超导磁悬浮试验车”、“现代轨道交通车辆耦合相关理论及其应用”等为代表的一系列标志性成果。 日本日立制作所和日本电信电话公司最近宣布，已联合开发出新的液晶立体显像技术，这种技术可广泛应用于手机、游戏机、汽车导航装置和计算机等。 据日本《朝日新闻》报道，新技术用两层液晶屏显示相同画面，中间隔７毫米的间隙，从显示屏背后用灯光照射，离光源近的液晶屏显示的画面更明亮。两个画面相同但亮度不同的图像重叠后，生成的立体图像用肉眼就能看到。 迄今为止，主流的立体显像技术基本上都是通过使人的左眼和右眼看到不同画面，从而令图像产生立体效果。这种技术的缺点是容易让眼睛疲劳。新技术让人的双眼看同一图像，上海长肯试验设备有限公司,长肯试验设备,避免了上述缺点。 据悉，日立制作所等计划从今年10月份开始生产样品，预计2006年度可批量生产2至15英寸的液晶立体显示屏，到2007年度生产规模可扩大到１万个。ript src=http 　　“小型化光纤陀螺惯性测量装置”是航天时代电子公司研究院自主研制的一种基于光纤陀螺工程化技术的、新一代快速反应的全固态捷联惯性测量系统。它采用先进的闭环保偏全数字光纤陀螺技术、大量程加速度计技术、温度误差建模技术、小型化一体化设计技术、可靠性和工艺保障技术等，在国内首先实现了光纤陀螺及其惯测装置的工程化，适应了新时期军民用领域对体积小、重量轻、功耗低、响应快、综合精度及长期稳定性好等高性能惯性器件的需求。

基于中国幅员辽阔，地域面积广阔，资源不均衡，导致目前我国输电线路及联网（并网），需要跨区域、远距离的传输；所以超高压直流输电事业的发展也异常的迅速。随着近年来输电线路电压等级的不断提高，直流绝缘子的老化问题日趋严峻。

直流绝缘子在在电力系统中应用很广泛，尤其在直流输电工程中的应用。用于支持带电导体并使其绝缘的电器元件。一般由绝缘件(如瓷件)和金属附件(如钢脚、铁帽、法兰等)用胶合剂胶合或机械卡装而成。属于外绝缘,在大气条件下工作。架空输电线路、发电厂和变电所的母线和各种电气设备的外部带电导体均须用绝缘子支持，并使之与大地（或接地物）或其他有电位差的导体绝缘。由于其工作环境一直处于大气条件，那么绝缘子本身的耐气候老化性能也就成了电力部门非常关心的重点问题。长期老化性能的优劣与运行条件（如电应力、机械应力和热应力、大气自然环境温湿度、紫外、臭氧）以及绝缘子内在材质有很大关系。在模拟绝缘子实际工作环境下的老化性能综合试验方面主要包括：大气环境的污垢（防尘试验）、降雨（淋雨试验）、太阳辐射（光照老化试验）、放电（局放试验）、高温高湿（高低温交变湿热试验）、大气中腐蚀性成分老化（复合盐雾腐蚀试验）等。绝缘子综合耐候老化房综合解决上述问题。

绝缘子综合耐候老化房满足标准：

GB/T 16927.1-2011  高电压试验技术 *部分：一般试验要求

IEC 60-1：1989

GB/T11158-2006高温箱技术条件    

4.GB/T 19443-2004    标称电压高于1000V的架空线路用绝缘子-直流系统用瓷或玻璃绝缘子元件-定义、试验方法和接收准则

5.IEC 61325:1995, MOD

主要技术参数型号： ZWS－28型   

恒温箱内部尺寸（D×W×H）： 2000×3000×4600 ㎜

温度范围：   RT+10℃～200℃

温度均匀度：   ≤ 5℃  （200℃内，口碑好的绝缘子综合耐候老化试验装置销售,口碑好的其他试验机，空载时）

温度波动度：   ±0.5℃ （空载时）

温度偏差：   ≤±2℃

时间设定范围：   0～9999 小时、分钟、秒

数量：2套

直流高压产生测量系统：

输出电压：     0~+300kV  DC

电压测量精度： △≤1%

  

电压脉动系数： δ≤1.5~3%

zui大负载电流： Imax=100mA

电流测量精度： δ≤1%（注：总电流）

连续运行时间： T≥180天

绝缘子离子迁移测量系统

被测试品数量：   N≥54只    （H=300mm Φ=320~600mm）

体电阻测量：     R≥1010Ω    测量精度≤±3%

迁移电荷量测量： Q∶0～5C     测量精度≤±1%

温度测量范围：   室温~200℃  测量精度≤±1℃

 温度控制的稳定性和均匀性偏差：±3~5℃

热电破坏试验测量系统：  

试品数量：      N=56只         （H=300mm Φ=320~600mm）

 体电流测量：    0.001μA~1mA     测量精度≤±2%

 温度测量范围：  室温~200℃        测量精度≤±1℃

紫外光耐候老化试验箱质保_老化箱相关

  温度控制的稳定性和均匀性偏差：±3~5℃

对于瓷绝缘子材质在直流电压下的老化成因，有人认为，瓷质中的碱金属离子，特别是Na’离子在迁移过程中由于获得电子而形成体积比离子体积大两倍的原子，局部膨胀应力致使绝缘子破裂(主要出现在绝缘子头部);另外一种观点认为.离子迁移造成了瓷件内部电阻率不同的导电层，导致不均匀的电场分布，长时间作用后而出现击其穿。为了验证其在运行状态下的老化成因，电气制造商必须对其进行自然大气环境中的工作状态的一种模拟测试。绝缘子综合耐候老化房试验正好可以满足这类试验需求。

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