由北京北分瑞利分析仪器集团公司所属的北京瑞利分析仪器有限公司和中国物理光学仪器专业委员会联合举办的第十五届全国光谱仪器与分析检测学术研讨会日前在京举行。这次大会的主题是：光谱仪器与生命科学。研讨会共征集到论文56篇，涉及领域有科研、教学、农林环保、医学医药、生物工程、卫生防疫、食品检测、水质监测、石油化工、地质冶金等。论文涉及的仪器有原子吸收分光光度计、红外光谱仪、紫外分光光度计、直读光谱仪、原子荧光光谱仪、显微分光光度计、离子色谱仪等种类。通过大会研讨交流，加快的我国光谱科技的开发与应用，推动了企业光谱仪器产品的更新换代和民族光谱仪器事业的发展。 　　台湾巨为仪器股份有限公司上海分公司老牌仪器厂家专业生产氙灯老化试验箱采用能模拟全阳光光谱的氙弧灯来再现不同环境下存在的破坏性光波，原装绝缘子综合耐候老化试验装置批发,工频耐压试验装置相关，可以为科研、产品开发和质量控制提供相应的环境模拟和加速试验。台湾巨为仪器股份有限公司上海分公司老牌仪器厂家专业生产氙灯老化试验箱可用于新材料的选择，改进现有材料或评估材料组成变化后耐用性的变化等试验。设备可以很好的模拟在不同环境条件内，材料曝露在阳光下所产生的变化。台湾巨为仪器股份有限公司上海分公司老牌仪器厂家专业生产氙灯老化试验箱严格按GB/T2423.24-1995的技术参数设计制造同时符合ISO4892-2试验方法A对应的技术参数要求。 兰州同位素仪表工程有限公司专门为油田钻井、固井、压裂等行业设计的单电源（+24VDC或+12VDC）车载同位素仪表，它与油田水泥车配套，测量水泥浆比重，并可用于钻井工艺中钻机入口、出口泥浆比重的测量。测量原理是放射源发出的γ射线穿过被测物料前后的强度变化遵寻朗伯-贝尔定律，即按指数规律衰减。通过检测穿介质的射线强度，原装绝缘子综合耐候老化试验装置批发,综合保护装置相关，再经过仪表内部的运算处理，即可准确测出介质的密度、浓度等。 其主要特点包括：非接触式测量，适应性广；测量与被测介质组成、化学、物理性质无关；高可靠性、无故障运行时间确保2万小时以上；完善的自检和自调试功能；特殊的抗干扰技术,稳定性好；数字化的温度补偿；仪表标定时无须停车，标定后置入的参数不会丢失。o

基于中国幅员辽阔，地域面积广阔，资源不均衡，导致目前我国输电线路及联网（并网），需要跨区域、远距离的传输；所以超高压直流输电事业的发展也异常的迅速。随着近年来输电线路电压等级的不断提高，直流绝缘子的老化问题日趋严峻。

直流绝缘子在在电力系统中应用很广泛，上海长肯试验设备有限公司,长肯试验设备,尤其在直流输电工程中的应用。用于支持带电导体并使其绝缘的电器元件。一般由绝缘件(如瓷件)和金属附件(如钢脚、铁帽、法兰等)用胶合剂胶合或机械卡装而成。属于外绝缘,在大气条件下工作。架空输电线路、发电厂和变电所的母线和各种电气设备的外部带电导体均须用绝缘子支持，并使之与大地（或接地物）或其他有电位差的导体绝缘。由于其工作环境一直处于大气条件，那么绝缘子本身的耐气候老化性能也就成了电力部门非常关心的重点问题。长期老化性能的优劣与运行条件（如电应力、机械应力和热应力、大气自然环境温湿度、紫外、臭氧）以及绝缘子内在材质有很大关系。在模拟绝缘子实际工作环境下的老化性能综合试验方面主要包括：大气环境的污垢（防尘试验）、降雨（淋雨试验）、太阳辐射（光照老化试验）、放电（局放试验）、高温高湿（高低温交变湿热试验）、大气中腐蚀性成分老化（复合盐雾腐蚀试验）等。绝缘子综合耐候老化房综合解决上述问题。

绝缘子综合耐候老化房满足标准：

GB/T 16927.1-2011  高电压试验技术 *部分：一般试验要求

IEC 60-1：1989

GB/T11158-2006高温箱技术条件    

4.GB/T 19443-2004    标称电压高于1000V的架空线路用绝缘子-直流系统用瓷或玻璃绝缘子元件-定义、试验方法和接收准则

5.IEC 61325:1995, MOD

主要技术参数型号： ZWS－28型   

恒温箱内部尺寸（D×W×H）： 2000×3000×4600 ㎜

温度范围：   RT+10℃～200℃

温度均匀度：   ≤ 5℃  （200℃内，空载时）

温度波动度：   ±0.5℃ （空载时）

温度偏差：   ≤±2℃

时间设定范围：   0～9999 小时、分钟、秒

数量：2套

直流高压产生测量系统：

输出电压：     0~+300kV  DC

电压测量精度： △≤1%

  

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电压脉动系数： δ≤1.5~3%

zui大负载电流： Imax=100mA

电流测量精度： δ≤1%（注：总电流）

连续运行时间： T≥180天

绝缘子离子迁移测量系统

被测试品数量：   N≥54只    （H=300mm Φ=320~600mm）

体电阻测量：     R≥1010Ω    测量精度≤±3%

迁移电荷量测量： Q∶0～5C     测量精度≤±1%

温度测量范围：   室温~200℃  测量精度≤±1℃

 温度控制的稳定性和均匀性偏差：±3~5℃

热电破坏试验测量系统：  

试品数量：      N=56只         （H=300mm Φ=320~600mm）

 体电流测量：    0.001μA~1mA     测量精度≤±2%

 温度测量范围：  室温~200℃        测量精度≤±1℃

  温度控制的稳定性和均匀性偏差：±3~5℃

对于瓷绝缘子材质在直流电压下的老化成因，有人认为，瓷质中的碱金属离子，特别是Na’离子在迁移过程中由于获得电子而形成体积比离子体积大两倍的原子，局部膨胀应力致使绝缘子破裂(主要出现在绝缘子头部);另外一种观点认为.离子迁移造成了瓷件内部电阻率不同的导电层，原装绝缘子综合耐候老化试验装置批发,智能其他试验机，导致不均匀的电场分布，长时间作用后而出现击其穿。为了验证其在运行状态下的老化成因，电气制造商必须对其进行自然大气环境中的工作状态的一种模拟测试。绝缘子综合耐候老化房试验正好可以满足这类试验需求。

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