富士电机系统日前上市了红外线式VOC气体检测器——ZSX。主要在设置有化学产品制造设备以及工业清洗装置等的生产设施中使用。外形尺寸为225×365×485mm，重量只有12kg，体积小、操作简单。 　 检测方式采用催化剂氧化-非散射型红外分析法（NDIR）。检测方法为：利用触媒氧化VOC气体、将其转换为二氧化碳（CO2）后进行检测。从检测值中扣除检测样品中原来含有的二氧化碳的含量，然后将剩余的二氧化碳的浓度作为VOC气体浓度、以容积比的百万分率（vol ppmC）显示。与氢火焰离子化检测法（FID）不同，不需要燃料气体及助燃气体，可降低运行成本。 　　台湾巨为仪器股份有限公司上海分公司老牌仪器厂家专业生产氙灯老化试验箱采用能模拟全阳光光谱的氙弧灯来再现不同环境下存在的破坏性光波，可以为科研、产品开发和质量控制提供相应的环境模拟和加速试验。台湾巨为仪器股份有限公司上海分公司老牌仪器厂家专业生产氙灯老化试验箱可用于新材料的选择，改进现有材料或评估材料组成变化后耐用性的变化等试验。设备可以很好的模拟在不同环境条件内，材料曝露在阳光下所产生的变化。台湾巨为仪器股份有限公司上海分公司老牌仪器厂家专业生产氙灯老化试验箱严格按GB/T2423.24-1995的技术参数设计制造同时符合ISO4892-2试验方法A对应的技术参数要求。 相信未来，中国的仪器仪表行业将越来越趋向于多元化发展，原装绝缘子综合耐候老化试验装置价格,提供其他试验机，业界的技术水平也会越来越高，产品的质量也会稳步上升，恒温恒湿试验箱已成为环试行业至关重要的主力军。事实上，近年来我国仪器仪表企业进行自主创新，有着良好的环境和氛围。工信部等相关部门已经明确表示将加大对仪器仪表行业发展尤其是自主创新品牌的支持力度。未来5年，国家自然科学基金委将加大对科学仪器的研发投入，这是国产仪器发展的大好时机。农业等行业对仪器设备的需求大幅增加，加之国内政策对国产设备的倾斜，只要我国仪器仪表积极进行自主创新，未来抢占高端市场就指日可待了。

基于中国幅员辽阔，地域面积广阔，资源不均衡，导致目前我国输电线路及联网（并网），原装绝缘子综合耐候老化试验装置价格,智能其他试验机批发，原装绝缘子综合耐候老化试验装置价格,串联谐振试验装置相关，需要跨区域、远距离的传输；所以超高压直流输电事业的发展也异常的迅速。随着近年来输电线路电压等级的不断提高，直流绝缘子的老化问题日趋严峻。

直流绝缘子在在电力系统中应用很广泛，尤其在直流输电工程中的应用。用于支持带电导体并使其绝缘的电器元件。一般由绝缘件(如瓷件)和金属附件(如钢脚、铁帽、法兰等)用胶合剂胶合或机械卡装而成。属于外绝缘,在大气条件下工作。架空输电线路、发电厂和变电所的母线和各种电气设备的外部带电导体均须用绝缘子支持，并使之与大地（或接地物）或其他有电位差的导体绝缘。由于其工作环境一直处于大气条件，那么绝缘子本身的耐气候老化性能也就成了电力部门非常关心的重点问题。长期老化性能的优劣与运行条件（如电应力、机械应力和热应力、大气自然环境温湿度、紫外、臭氧）以及绝缘子内在材质有很大关系。在模拟绝缘子实际工作环境下的老化性能综合试验方面主要包括：大气环境的污垢（防尘试验）、降雨（淋雨试验）、太阳辐射（光照老化试验）、放电（局放试验）、高温高湿（高低温交变湿热试验）、大气中腐蚀性成分老化（复合盐雾腐蚀试验）等。绝缘子综合耐候老化房综合解决上述问题。

绝缘子综合耐候老化房满足标准：

GB/T 16927.1-2011  高电压试验技术 *部分：一般试验要求

IEC 60-1：1989

GB/T11158-2006高温箱技术条件    

4.GB/T 19443-2004    标称电压高于1000V的架空线路用绝缘子-直流系统用瓷或玻璃绝缘子元件-定义、试验方法和接收准则

5.IEC 61325:1995, MOD

主要技术参数型号： ZWS－28型   

恒温箱内部尺寸（D×W×H）： 2000×3000×4600 ㎜

温度范围：   RT+10℃～200℃

温度均匀度：   ≤ 5℃  （200℃内，空载时）

温度波动度：   ±0.5℃ （空载时）

温度偏差：   ≤±2℃

时间设定范围：   0～9999 小时、分钟、秒

数量：2套

直流高压产生测量系统：

输出电压：     0~+300kV  DC

电压测量精度： △≤1%

  

电压脉动系数： δ≤1.5~3%

zui大负载电流： Imax=100mA

绝缘子综合耐候老化试验装置采购_综合微机保护装置相关
电流测量精度： δ≤1%（注：总电流）

连续运行时间： T≥180天

绝缘子离子迁移测量系统

被测试品数量：   N≥54只    （H=300mm Φ=320~600mm）

体电阻测量：     R≥1010Ω    测量精度≤±3%

迁移电荷量测量： Q∶0～5C     测量精度≤±1%

温度测量范围：   室温~200℃  测量精度≤±1℃

 温度控制的稳定性和均匀性偏差：±3~5℃

热电破坏试验测量系统：  

试品数量：      N=56只         （H=300mm Φ=320~600mm）

 体电流测量：    0.001μA~1mA     测量精度≤±2%

 温度测量范围：  室温~200℃        测量精度≤±1℃

  温度控制的稳定性和均匀性偏差：±3~5℃

对于瓷绝缘子材质在直流电压下的老化成因，有人认为，瓷质中的碱金属离子，特别是Na’离子在迁移过程中由于获得电子而形成体积比离子体积大两倍的原子，上海长肯试验设备有限公司,长肯试验设备,局部膨胀应力致使绝缘子破裂(主要出现在绝缘子头部);另外一种观点认为.离子迁移造成了瓷件内部电阻率不同的导电层，导致不均匀的电场分布，长时间作用后而出现击其穿。为了验证其在运行状态下的老化成因，电气制造商必须对其进行自然大气环境中的工作状态的一种模拟测试。绝缘子综合耐候老化房试验正好可以满足这类试验需求。

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