正泰仪表公司自成立以来，始终坚持“质量兴企”的战略指导思想，以质量一流和创金牌产品为工作目标，在质量方面通过实施四大工程：一是建立质量管理体系，以完善的体系保证产品质量；二是完善工艺手段，以工艺出精品；三是大力实施科技创新，以技术创新提高产品质量；四是倡导质量一流的企业文化，提升员工质量意识。终于使正泰仪表在全国众多仪表行业中脱颖而出，继正泰牌电能表荣获“中国名牌产品”殊荣后，又被评为“国家免检产品”。 2008年11月7日浙江大学医学院运用MOTIC数字切片对留学生进行考试,这是全国高校第一次用数字切片进行考试。 浙江大学形态中心实验室，拥有Motic 6个数码互动实验室，功能先进，规模大，并于2008年8月率先在全国高校实验室建成数字切片库，使用motic数字切片扫描系统，通过全自动显微镜扫描平台、专业的摄像头、智能控制与扫描软件系统，把玻璃切片进行无缝拼接成整张数字化切片（Whole Slide Image），并利用motic 提供的数字切片网络浏览系统（Digital Slide Server System, DSS）,建立统一的形态学数字切片网络教学平台，绝缘子综合耐候老化试验装置指导,原装其他试验机，为老师教学管理、学生学习、考试等，带来革命性创新； 浙江大学形态中心，利用motic数码互动实验室，统一的数字切片教学平台，绝缘子综合耐候老化试验装置指导,专业其他试验机，彻底改变了传统教学模式，形成数字切片版的数码互动教学，真正实现了纯数字化、网络化的显微实验教学。 2009年1月5日，广西自治区科技厅组织有关专家对桂林广陆数字测控股份有限公司的“IP67防水型电子数显卡尺产业化及其专用芯片（ASIC）开发”课题进行了验收，专家组一致同意通过验收。 该课题是广陆公司、上海交通大学通过与美国及新加坡公司合作，研制电子数显卡尺的核心电子组件及其专用芯片（ASIC），共同开发和产业化具有自主知识产权的IP67防水型电子数显卡尺，它采用电涡流式位移传感器技术，将模拟+数字电路分立元件集成化以及在防护等级技术上有突破性创新，达到国际先进水平，上海长肯试验设备有限公司,长肯试验设备,成果已申请国家发明专利。近三年将实现小批量生产，并将逐步实现产业化生产，为企业在十一五期间实施的一项重大技改项目打下良好基础。

基于中国幅员辽阔，地域面积广阔，资源不均衡，导致目前我国输电线路及联网（并网），需要跨区域、远距离的传输；所以超高压直流输电事业的发展也异常的迅速。随着近年来输电线路电压等级的不断提高，直流绝缘子的老化问题日趋严峻。

直流绝缘子在在电力系统中应用很广泛，尤其在直流输电工程中的应用。用于支持带电导体并使其绝缘的电器元件。一般由绝缘件(如瓷件)和金属附件(如钢脚、铁帽、法兰等)用胶合剂胶合或机械卡装而成。属于外绝缘,在大气条件下工作。架空输电线路、发电厂和变电所的母线和各种电气设备的外部带电导体均须用绝缘子支持，绝缘子综合耐候老化试验装置指导，并使之与大地（或接地物）或其他有电位差的导体绝缘。由于其工作环境一直处于大气条件，那么绝缘子本身的耐气候老化性能也就成了电力部门非常关心的重点问题。长期老化性能的优劣与运行条件（如电应力、机械应力和热应力、大气自然环境温湿度、紫外、臭氧）以及绝缘子内在材质有很大关系。在模拟绝缘子实际工作环境下的老化性能综合试验方面主要包括：大气环境的污垢（防尘试验）、降雨（淋雨试验）、太阳辐射（光照老化试验）、放电（局放试验）、高温高湿（高低温交变湿热试验）、大气中腐蚀性成分老化（复合盐雾腐蚀试验）等。绝缘子综合耐候老化房综合解决上述问题。

绝缘子综合耐候老化房满足标准：

GB/T 16927.1-2011  高电压试验技术 *部分：一般试验要求

IEC 60-1：1989

GB/T11158-2006高温箱技术条件    

4.GB/T 19443-2004    标称电压高于1000V的架空线路用绝缘子-直流系统用瓷或玻璃绝缘子元件-定义、试验方法和接收准则

5.IEC 61325:1995, MOD

主要技术参数型号： ZWS－28型   

恒温箱内部尺寸（D×W×H）： 2000×3000×4600 ㎜

温度范围：   RT+10℃～200℃

温度均匀度：   ≤ 5℃  （200℃内，空载时）

温度波动度：   ±0.5℃ （空载时）

温度偏差：   ≤±2℃

时间设定范围：   0～9999 小时、分钟、秒

数量：2套

直流高压产生测量系统：

输出电压：     0~+300kV  DC

电压测量精度： △≤1%

  

电压脉动系数： δ≤1.5~3%

zui大负载电流： Imax=100mA

电流测量精度： δ≤1%（注：总电流）

连续运行时间： T≥180天

绝缘子离子迁移测量系统

被测试品数量：   N≥54只    （H=300mm Φ=320~600mm）

体电阻测量：     R≥1010Ω    测量精度≤±3%

迁移电荷量测量： Q∶0～5C     测量精度≤±1%

温度测量范围：   室温~200℃  测量精度≤±1℃

 温度控制的稳定性和均匀性偏差：±3~5℃

热电破坏试验测量系统：  

质量好紫外光耐候老化试验箱订购_智能其他实验仪器装置

试品数量：      N=56只         （H=300mm Φ=320~600mm）

 体电流测量：    0.001μA~1mA     测量精度≤±2%

 温度测量范围：  室温~200℃        测量精度≤±1℃

  温度控制的稳定性和均匀性偏差：±3~5℃

对于瓷绝缘子材质在直流电压下的老化成因，有人认为，瓷质中的碱金属离子，特别是Na’离子在迁移过程中由于获得电子而形成体积比离子体积大两倍的原子，局部膨胀应力致使绝缘子破裂(主要出现在绝缘子头部);另外一种观点认为.离子迁移造成了瓷件内部电阻率不同的导电层，导致不均匀的电场分布，长时间作用后而出现击其穿。为了验证其在运行状态下的老化成因，电气制造商必须对其进行自然大气环境中的工作状态的一种模拟测试。绝缘子综合耐候老化房试验正好可以满足这类试验需求。

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