静电放电(ESD:ElectrostaticDischarge)，应该是造成所有电子元器件或集成电路系统造成过度电应力(EOS:ElectricalOverStress)破坏的主要元凶！因为静电通常瞬间电压非常高(几千伏)，所以这种损伤是毁灭性的，会造成电路直接烧毁!所以预防静电损伤是所有IC设计和制造的头号难题.ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的！

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HanwaESD测试方法

　　ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的！静电ESD测试仪器/HBMESD测试设备HanwaESD测试设备主要针对HBM、MM、CDM、TLP等常见模型进行分析.4）HED-N5000全自动ESD测试系统可以测试多达1056pin的器件占用空间小适用于ESD测试和latch-up测试，符合新测试标准,板上可容纳8个插座.符合标准（JEDEC，ESDA）与HanwaS5000和Verifire插座板兼容5）HED-W5000M晶圆ESD测试机ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。

　　深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），成立于2011年，总部设在深圳，并在北京、南京、成都等地设有业务网点。易捷测试专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务!易捷测试客户主要涵盖中国具有影响力的研究所、高校和具有研发实力的企业。公司拥有一批在半导体测试领域具有丰富经验的专业技术团队.该团队不仅能为客户提供高质量和多方位的解决方案，也能为客户提供系统化国产化改造服务!

　　SCM（10pF浪涌）选项可用!ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的.静电ESD测试仪器/HBMESD测试设备HanwaESD测试设备主要针对HBM、MM、CDM、TLP等常见模型进行分析！1）HCE-5000紧凑型ESD测试机超紧凑型便携式ESD测试机（HBM，MM，HMM）测试仪独立的测试系统，携带方便，空间占用率小，性价比好不用搭配其他PC或Curvetracer便可独立完成HBM、MM和漏电测试适用于现场测试.