静电放电(ESD:ElectrostaticDischarge)，应该是造成所有电子元器件或集成电路系统造成过度电应力(EOS:ElectricalOverStress)破坏的主要元凶.因为静电通常瞬间电压非常高(几千伏)，所以这种损伤是毁灭性的，会造成电路直接烧毁！所以预防静电损伤是所有IC设计和制造的头号难题。ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的！ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的.

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全自动ESD测试仪

　　ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的。静电ESD测试仪器/HBMESD测试设备HanwaESD测试设备主要针对HBM、MM、CDM、TLP等常见模型进行分析!4）HED-N5000全自动ESD测试系统可以测试多达1056pin的器件占用空间小适用于ESD测试和latch-up测试，符合新测试标准,板上可容纳8个插座！符合标准（JEDEC，ESDA）与HanwaS5000和Verifire插座板兼容5）HED-W5000M晶圆ESD测试机ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的!

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　　ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的保障质量都是必不可少的!价格适中的多功能手动晶圆级测试仪.专配软件可用于泄漏测量和判断.适用于大多数类型的手动探针台.6）HED-W5100D全自动晶圆ESD测试机ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的.ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的保障质量都是必不可少的!高可支持12英寸300mm晶圆ESD测试方案测试效率高，自动探针台和晶圆映射程序启用了全自动晶圆级ESD测试同时支持package测试配备CCD相机可以与HanwaTLP测试仪，HED-T5000和T5000VFWoks集成在一起，作为不带插座板的高引脚数封装级测试仪.