测试频率20Hz~200KHz，精确度0.02%基本量测准确度：0.1%3种阻抗输出模式选择，测量结果可与各*厂家之LCR表完全对比增强式圈数比准确测量，适用于低磁道率的磁芯。提供各种标准测试治具及特殊治具订制四端测试治具，可得到DCR，电感量和圈数比精确稳定的测量。内建式比较器，10级分类及计数功能（仅适于3252/3302）2M SRAM记忆卡供机台资料设定及备份标准RS~232，HANDLER及PRINER界面50组内部仪器设定可供储存及呼叫。测试参数 圈数比（TURN RATIO），相位（PHASE），圈数（TURN），电感（L）品质因子（Q），漏电感（LK），平衡（BALANCE），交流电阻（ACR）电容（CP），直流电阻（DCR），接脚短路（PIN SHORT）测试电压 10mV-10V，10mV/STEP测试频率 20Hz~200KHz