现货出售 4284A+42841A+42842A安捷伦惠普LCR电桥维修李甜
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深圳佳捷伦电子仪器有限公司

：欧阳先生

：李甜

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4284A+42841A+42842A安捷伦惠普LCR电桥维修销售
?Agilent 4284A|HP4284A|HP-4284A|LCR测试仪|数字电桥 20Hz至1MHz
*: 安捷伦 | Agilent | 惠普 | HP
·20Hz-1MHz具有8600个以上的测试频率
·0.05%的基本精度，6位数字分辨率
·恒定的V或I测试信号电平
·20Vrms电平选件（选件001）
·用Alilent 42841A进给出40Adc
·具有列表扫描测量功能
Agilent 4284A精密LCR测试仪是用于元件和材料测量的价廉物美的仪器。它通过提供精密、高吞吐量的测试方法来改善元件的质量。
20Hz到1MHz宽的测频范围和优良的测试信号，使4284A在测试元件时符合通行的测试标准如IEC/MIL标准（国际电工委或美*准），且工作在模拟所使用的工作条件下。
无论在研究开发、生产、*中还是进货检验，4284A都能满足全部LCR测量要求。

Agilent 4278A详细资料：
Agilent 4278A|HP-4278A|HP4278A|电桥|LCR测试仪|惠普
*:安捷伦 | Agilent | 惠普 | HP
4278A技术指标：
4278A测量参数 C-D，Q，ESR，G
4278A测试信号
4278A频率： 1kHz和1MHz±0.02%
信号电平： 0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进
测量时间： 6.5ms/10ms/21ms(典型值）
测量范围 测量参数 1kHz 1MHz正常模式
1MHz*
4278A电缆长度补偿 0,1或2m
Agilent 4278A比较器：对电容的10仓室分类，对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试
存储卡插槽 外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用
（存储卡可任选，参见下面的选件004）。
4278A一般技术指标Agilent 4278A
★测量速度:6.5ms/10ms/21ms
★测量参数:C-D,Q,ESR,G
★C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
★0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A详细资料：
测量速度:6.5ms/10ms/21ms
测量参数:C-D,Q,ESR,G
C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A 1kHz/1MHz电容测试仪是一台高速高可靠的精密测试仪器，用于生
产线和质量控制中作电容器的进出厂检。Agilent 4278A 能改善小电容量和中等电
容器的测试效率（可测量以200μF，这个电容量能容纳多数陶瓷和薄膜电容器的数据值）。
技术指标：
测量参数
C-D，Q，ESR，G
测试信号
频率：
1kHz和1MHz±0.02%
信号电平：
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进
测量时间：
6.5ms/10ms/21ms(典型值）
测量范围
测量参数
1kHz
1MHz正常模式
1MHz*
C
0.01pF~200.000μF
0.00001pF~1280.00pF
。Agilent 4278A 能改善小电容量和中等电
容器的测试效率（可测量以200μF，这个电容量能容纳多数陶瓷和薄膜电容器的数据值）。
测量速度:6.5ms/10ms/21ms
测量参数:C-D,Q,ESR,G
C-D测量精度:0.07%,0.0005（1kHz,21ms）
0.05%,0.0002（1MHz,21ms）
Agilent 4278A 1kHz/1MHz电容测试仪是一台高速高可靠的精密测试仪器，用于生
产线和质量控制中作电容器的进出厂检
_HP4278A阻抗分析仪、价格
Agilent 4278A|HP-4278A|HP4278A|电桥|LCR测试仪|惠普
*:安捷伦 | Agilent | 惠普 | HP
4278A技术指标：
4278A测量参数 C-D，Q，ESR，G
4278A测试信号
4278A频率： 1kHz和1MHz±0.02%
信号电平： 0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进
测量时间： 6.5ms/10ms/21ms(典型值）
测量范围 测量参数 1kHz 1MHz正常模式
1MHz*
4278A电缆长度补偿 0,1或2m
Agilent 4278A比较器：对电容的10仓室分类，对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试
存储卡插槽 外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用
（存储卡可任选，参见下面的选件004）。
4278A一般技术指标Agilent 4278A
★测量速度:6.5ms/10ms/21ms
★测量参数:C-D,Q,ESR,G
★C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
★0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A详细资料：
测量速度:6.5ms/10ms/21ms
测量参数:C-D,Q,ESR,G
C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A 1kHz/1MHz电容测试仪是一台高速高可靠的精密测试仪器，用于生
产线和质量控制中作电容器的进出厂检。Agilent 4278A 能改善小电容量和中等电
容器的测试效率（可测量以200μF，这个电容量能容纳多数陶瓷和薄膜电容器的数据值）。
技术指标：
测量参数
C-D，Q，ESR，G
测试信号
频率：
1kHz和1MHz±0.02%
信号电平：
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进
测量时间：
6.5ms/10ms/21ms(典型值）
测量范围
测量参数
1kHz
1MHz正常模式
1MHz*
C
0.01pF~200.000μF
0.00001pF~1280.00pF
0.00004pF~2663.00pF
D
0.00001~9.99999
0.00001pF~9.99999
0.00001pF~0.99999
电缆长度补偿
0,1或2m
比较器：
对电容的10仓室分类，对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试
存储卡插槽
外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用（存储卡可任选，参见下面的选件
004）。
一般技术指标：
工作温度/湿度
5°~45℃，在40℃时相对湿度为95%
电源
100,120,220Vac±10%,240Vac+5-10%,48~66Hz,200V
Amax
尺寸
约426mm(宽）*177mm(高）*498mm(长）（16.77英寸*6.97英寸*19.61英寸)
重量：
约15kg(33磅，标准）
★测量速度:6.5ms/10ms/21ms
★测量参数:C-D,Q,ESR,G
★C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
★0.05%,0.0002(1MHz,21ms)


备注：
我们的优势：
品种齐全，货源充足，存库雄厚，服务快捷，维修能力强。
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