介电常数介质损耗测试仪主要技术指标：2.1 tanδ和ε性能：2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。2.1.2 tanδ和ε测量范围：tanδ：0.1～0.00005，ε：1～502.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）：tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%工作频率范围：50kHz～50MHz 四位数显，压控振荡器Q值测量范围：1～1000三位数显，±1Q分辨率可调电容范围：40～500pF ΔC±3pF电容测量误差：±1%±1pFQ表残余电感值：约20nH介电常数介质损耗测试仪特点：◎本公司*的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。◎能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。◎调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。◎特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎Q值量程自动/手动量程控制。◎DPLL合成发生1kHz～60MHz 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。◎测试装置符合*GB/T 1409-2006美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。介电常数介质损耗测试仪电感器：按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。高频介质样品（选购件）：在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。工作特性 1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023；b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；c．标称误差AC频率范围25kHz～10MHz100kHz～10MHz固有误差≤5％±满度值的2%≤5％±满度值的2%工作误差≤7％±满度值的2%≤7％±满度值的2%频率范围10MHz～60MHz10MHz～160MHz固有误差≤6％±满度值的2%≤6％±满度值的2%工作误差≤8％±满度值的2%≤8％±满度值的2% 2．电感测量范围AC14.5nH～8.14H4.5nH～140mH3．电容测量AC直接测量范围1～460p1～205p主电容调节范围40～500pF18～220pF准确度150pF以下±1.5pF；150pF以上±1%150pF以下±1.5pF150pF以上±1%注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。 4．信号源频率覆盖范围AC频率范围10kHz～60MHz0.1～160MHzCH110～99.9999kHz0.1～0.999999MHzCH2100～999.999kHz1～9.99999MHzCH31～9.99999MHz10～99.9999MHzCH410～60MHz100～160MHz频率指示误差3×10-5±1个字5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～1000 6．Q表正常工作条件 a.环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：<80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 7．其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c.外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。#