X-MET5100 – 跨越轻元素检测!牛津仪器推出革命性的手持式硅漂移探测器 X 射线荧光分析仪 X-MET5100 保证了铝及钛合金的实验室质量分析的精确性，它对检测铜、镍和钢等金属材料中含有的轻金属元素时的敏感性也是无与伦比的。 这款坚固的便携式 XRF 轻元素测试工具，专为以下行业应用而设计：- PMI 检测行业- 废旧金属回收行业- 航空工业 X-MET5100结合了硅漂移探测器 (SDD)、45 千伏 X 射线管和经验系数分析方法，其特点为：- 只需1秒即可准确分析和确定金属合金成分- 无需借助复杂的真空泵或氦气罐等附属设备就可对镁、铝、硅等轻元素进行测量- 受限物质（重金属元素）、玩具中的铅、土壤中的污染物和矿石中的微量物质可以得到快速准确测量- 在几秒钟之内，就可以得到 ppm 级的痕量元素检测结果- 无与伦比的检测速度和准确性确保了*可靠的实时检测结果- 符合 IP54 (NEMA 3) 防尘防水认证要求，能够承受苛刻的工作条件