X荧光光谱仪_手持式X荧光光谱仪_手持式合金分析仪型号SY.62-SD-LE图片简介SY.62-SD-LE手持式合金分析仪是世界台配置了硅漂移探测器（SDD）的手持X射线荧光光谱仪，能量分辨率高达140eV，计数率可达100kcps，大幅度地提高了分析速度和灵敏度。能在空气模式下，无需真空够或氦气冲洗即可测量铝合够或氦气冲洗即可测量铝合金中的AI，Mg，Si，钛合金中的AI以及钢材中的Si、S、P。为航空航天、核工业、军工、汽车等行业的材质无损分析的提供了理想工具。同时SY.62-SD-LE也是当前全球艺术和环境保护科学家的仪器，在采矿业，土壤研究，玩具制造等领域都有特殊的应用。硬件和软件的超强功能及灵活性，加上无可匹敌的应用支持，科学家们得到的不仅是手持式仪器的便利，更重要的是能获得实验室级仪器的测量精度。优势l能够分析AI、Mg、Sil可编辑用户数据库l测量元素范围可低至Mg(12)l微软实时系统软件（MSCE）提供图谱分析l高灵敏度，可检测低至PPM的微量元素lPXRF软件还具有定性和定量分析功能，控制光管的电压和电流，使之适用于大范围的无素测量。l无真空，无氦气消耗，精度可靠。技术参数：重量：1.5kg尺寸：30cm*10cm*28cm分析元素：Ti-U加AI、Mg、Si激发源：X射线管，Ag靶语言：12种语言（包括中文，用户自选）检测器：硅漂移检测器（SDD），检测速度快，分辨率高，145eV，计数率：100Keps操作系统：HP掌上电脑：WindowsMobile5.0Bruker*软件冷却系统：Peltier恒温冷却系统，保证仪器的使用寿命和精度电源：可交、直流供电，充电锂电池，可连续工作6-8小时电池充电器：交流交电器，110/220V，50/60HZ显示器：240*320彩显；65536像素；背景光可调，触摸屏测量模式：牌号识别，定量分析，显示测量谱线，合格与否判定数据传输：USB存储卡，蓝牙数据存储：主机：512MB存储卡：CF/SD卡，2GB，能存储几十万个牌号和测量数据。高温测量：热表面适配器，可测量500℃高温样品安全：密码保护，设有多级安全锁运输：减震、抗压、防水、密封仪器箱仪器箱颜色：银色和橙色（可选）质保期：2年环境范围：-10℃—50℃应用领域：1.石油化工2.锅炉压力容器3.航空航天4.机械制造与加工5.军工6.金属回收与分类7.钢铁8.贵金属9.电站电厂10.玩具11.矿石12.环保质量13.土壤14.其它