能量色散X荧光光谱仪Ux-510详细说明：能量色散X荧光光谱仪 主要特点 真空测试系统特别设计的真空测试系统，全面保证了轻质元素（CL等）的检测质量，同时保留了原有测试系统对于其他元素的适应性。不会因测轻质元素而降低对其他元素的测试效果。 全自动操作自动化的操作系统、人性化的操作界面，通过鼠标即可完成全程操作（真空控制、原级滤光片、准直器、二次滤光片、样品的移动和样品盖的开关、工作曲线的选择全部实现自动化控制，程序会根据预先设定的测试条件自动进行所有的切换动作）。 照射区精确控制系统可精确调整的X光照射区域控制系统，实现了对测试区域的准确把握。从根本上保证测试数据的对应性。 成熟的经典分析方法七·五、九·五科技攻关计划之科技成果，汇近二十五年分析测试应用经验的经典数学分析模型，为测试者提供可靠、、稳定的分析结果。 强大的软件功能高度智能化设计使操作更加简便，轻松成为测试*。可根据测试情况，自动设定各操作单元动作及相关技术参数。既保证了相关器件的寿命，又避免了人为操作误差。全自动*背景拟合、多元回归等解谱方法的应用，使复杂材质的检测更加准确、便捷。特别预置的谱图对比功能，很方便的实现历史谱图与被测谱图的对比，利于对数据变化材质的精确分析，进一步提高企业的风险应对水平。简单、迅速的数据管理与报告输出格式，方便用户进行相关的数据管理与报告输出。 开放性工作曲线用户可很方便的建立不同材质材料的工作曲线，提高工作曲线与被测材料的对应性。建立本地化的工作曲线库，从而全面提升检测精度。 严谨的硬件集成与结构设计对可能影响整机精确度及稳定性的核心器件，全部采用高端进口原厂产品。严谨的模块化设计与组件选择，确保了整机性能的稳定性与未来服务的操作简便性。别设计的原级、二次滤光系统，既保证了对有害元素的激发效率，同时全面降低了作为干扰因素的背景强度，充分提高峰背比，大幅度降低检出下限。 全光路射线防护系统业界的全光路三重防护系统（软件防护、硬件防护、迷宫式结构），根本上避免了故障、误操作等可能的辐射伤害。确保机器操作过程中辐射量低于环境本底值。（开盖测量除外。大样品进行开盖测量时的特别警示系统，进一步确保用户在该类物质测试过程中的安全顾虑）。全光路防护的结构设计，减少了无射线区域的无必要防护，进一步确保了整机散热质量，全面提升系统的环境适应性及稳定性。能量色散X荧光光谱仪 检测范围： Al（铝）--U（铀）能量色散X荧光光谱仪 技术参数1、 仪器尺寸：800(W)*470(D)*500(H)mm2、 样品腔尺寸：小样品腔：300*300*100mm真 空 腔：ø 200*40 mm大样品腔（非真空）：无限制，小于30公斤3. 测试真空度20Pa，极限真空0.1Pa4、 重量：约85Kg5、 工作环境温度：温度15—30℃6、 工作环境相对湿度：≤85% (不结露)7、 可分析元素范围 ： Al-U（可以检测无卤元素Cl和Br）8、 低检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm ,Pb≤5ppm Cl≤50ppm9、 测量时间 ：200-500s ( 系统自动调整 )10、 分辨率：149±5eV11、 输入电源：AC 220V～240V，50/60Hz11、 额定功率 ：1500W