德国斯派克分析仪器公司开发出了一种极其成功的技术，把偏振X射线应用于荧光分析。正如现今在拍摄高质量图片时偏振滤光片是*的工具一样，这种*的分析技术已成为实验室测定主量、次量和痕量元素*的手段。斯派克分析仪器公司不断发展这一技术，并推出了新一代的仪器—SPECTRO XEPOS台式偏振X射线荧光光谱仪。扩展的偏振光学系统（Extended Polarization Optical System）*使用50W低能量X射线管发出的原始X射线作为辐射源，用于Na-U元素的同时分析，从X射线发出的原始X射线通过高能量偏振光学系统进行聚集，得到的完全偏振且部分单色的X射线可以高灵敏地测定各种元素。这种分析技术在许多应用中不需要高吸收辐射的滤光片。SPECTRO XEPOS具有广泛的应用领域—从石化、建材、废物处理以及再加工工业到直接产品控制。油中各种元素的分析便是一例。使用SPECTRO XEPOS，在氮气保护状态下，在300秒钟之内，对于元素 P、S、Cl、Ca、Cu、Zn和Ba的检测下限在1—7ｕg/g。在检出下限以上，测量的重现性RSD≤1％。SPECTRO XEPOS也适用于耐火材料及陶瓷工业的分析。采用四硼酸锂熔片制样法时，样品中主要成分测量的重现性RSD＝0.22％。　　 XEPOS型X射线荧光光谱仪可广泛应用于各种电子材料及塑料中铅、镉、（汞）等元素分析，检出下限低，灵敏度高、稳定性好，可应对欧洲WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083标准。