涂层测厚仪奥林巴斯45mg测厚仪 上海斌瑞供

45MG超声测厚仪:

操作简便、坚固*、性能可靠

45MG仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的高I级超声测厚仪。这款独具特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容，是一款集所有解决方案于一机的*型仪器，可用于几乎所有测厚应用。

标准功能

45MG仪器在使用基本配置时，是一款易懂易学、操作简便的测厚仪，操作人员经过ZUI基本的培训，就可完成ZUI常用的测厚应用。不过，45MG仪器添加了可选软件选项和探头后，就会变成一款极为高I级的测厚仪，可以进行典型的初级仪器不能完成的应用。此外，大多数选项可以在购买仪器时分别购买，或在日后需要时购买。

l与所有Olympus双晶探头兼容，可对内部腐蚀的金属的厚度进行测量

lZUI小值/ZUI大值模式

l两个报警模式

l差值模式

l时基B扫描

l缩减率

l增益调整（标准、高、低）

l密码式仪器锁定

带有可选橡胶保护套和支架的45MG仪器

抵御恶劣环境的能力

l坚固*，设计符合IP67标准。

l爆炸性气氛：可在国I家防火协会规范（NFPA 70）500节I级2分段D组规定的爆炸性气氛环境中安I全操作，并且通过了美军标准MIL-STD-810G方法511.4程序I中规定的测试。

l防撞击测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法516.5程序I中规定的测试，每轴6个循环，15 g，11 msec半弦波。

l防振动测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。

l宽泛的操作温度范围

l可选的带有支架的橡胶保护套

简便操作的设计理念

l可只用右手或左手操作的简洁的键区

l可直接访问大多数功能的简便易行的操作界面

l使用内置MicroSD存储卡和可插拔MicroSD存储卡的存储方式

lUSB通讯端口

l可存储475000个厚度读数或20000个波形的可选字母数字式数据记录器

l默认或自定义单晶探头设置（可选）

l密码保护方式的仪器锁定

l彩色透反QVGA显示，带有室内和室外颜色设置，具有极I佳的清晰度

可选功能

只需几次按键，即可完成从简单腐蚀测厚仪到多功能精确测厚仪的华丽变身。45MG测厚仪提供需密码激I活的5个软件选项，从而跻身于工业领域中用途ZUI广I泛的测厚仪行列。

回波到回波/穿透涂层：使用回波到回波选项，仪器屏幕上会显示金属的实际厚度，而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度，这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，在进行厚度测量时，无需去掉材料表面的漆层或涂层。

单晶：这个选项可对很多材料，如：金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷，进行非常精确的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。

单晶高穿透：这个选项可对较厚或衰减性较高的材料，如：玻璃纤维或铸造金属，进行厚度测量。可与范围在0.5 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。

数据记录器：45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于Windows的GageView接口程序。

带有波形调整功能的实时A扫描：用户使用这个可选实时A扫描模式，可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形（或称A扫描），核查厚度测量读数，对增益和空白设置进行手动调整，以在具有挑战性的应用中ZUI大限度地增强测量性能。这个极为有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、首I个回波空白、范围及延迟参数。

室内显示设置，可选A扫描模式

室外显示设置，可选A扫描模式

使用双晶探头对腐蚀工件进行测量

45MG测厚仪的一个主要应用是测量那些受腐蚀或侵蚀的管道、管件、箱体、压力容器、船体外壳及其它结构的剩余厚度。这些应用中ZUI常使用的是双晶探头。

l用于标准D79X系列双晶探头的自动探头识别功能

l当校准过程中出现双回波时，会发出双回波警告

l回波到回波/穿透涂层选项可测量带有漆层和涂层的表面

l高温测量：温度可高达500°C]

B扫描成像（基于时间）

45MG仪器提供的B扫描功能，可在屏幕上将实时厚度读数转换为横截面图像。在观察材料厚度在一定距离上发生的变化时，这个标准功能非常有用。探头一接触到材料表面，就会激I活B扫描。冻结ZUI小值功能用于显示扫查区域的ZUI小厚度值。可选45MG数据记录器ZUI多可存储单个B扫描中的10000个厚度读数。

室内显示设置，B扫描模式

回波到回波/穿透涂层选项

回波到回波

测厚仪使用多个底面回波，显示不计涂层厚度的实际金属厚度：

l自动回波到回波

l手动回波到回波（仅出现于A扫描选项），可进行以下操作：

Ø增益调整

Ø扩展空白

Ø回波空白

显示A扫描的自动回波到回波模式

调整个回波空白的手动回波到回波模式

高温表面

45MG测厚仪配上D932系列探头（D790、D790­-SM、D790-RL和D790-SL），是测量高温材料（温度高达500ºC）的理想选择，并可获得稳定的厚度读数。45MG的零位补偿功能，通过补偿探头延迟块因热漂移而产生的温度变化，提高了在高温表面上进行测量的精确性。

穿透涂层技术

使用单个底面回波测量金属的实际厚度。使用这个技术可以分别显示金属和涂层的厚度。这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，要得到金属的厚度，无需去掉表面的漆层和涂层。穿透涂层测量技术使用D7906-SM、D7906-RM和D7908双晶探头。

显示涂层厚度和钢材料厚度的穿透涂层模式（波形选项未被激I活）

显示可选波形的穿透涂层模式

使用单晶探头对工件进行精确测量

对塑料、金属、复合材料、玻璃、橡胶及陶瓷材料进行厚度测量

使用单晶探头

用户使用单晶探头可以精确测量金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我们提供各种频率、直径和连接器类型的单晶探头。如果用户要将45MG仪器与单晶探头配合使用，则必须购买单晶软件或高穿透软件选项。

l在使用频率范围为2.25 MHz到30 MHz的单晶探头时，单晶软件选项可显示分辨率高达0.001毫米（0.0001英寸）的测量值。

l高穿透软件选项用于测量玻璃纤维、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。

l测量厚度、声速或渡越时间。

l自动调用默认设置和自定义设置用于当前应用的功能简化了厚度测量操作。

单晶软件选项

用户使用单晶软件选项，可以完成分辨率高达0.001毫米或0.0001英寸的极为精确的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。

l大多数薄材料和厚材料

l壁厚薄如0.08毫米（0.003英寸）的塑料瓶、管件、管道及薄片材料

l壁厚薄如0.10毫米（0.004英寸）的金属容器、钢圈板、机加工部件

l汽缸孔、涡轮叶片

l玻璃灯泡、瓶子

l薄壁玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料

l曲面部分或内圆角半径较小的容器

高穿透软件选项可以对很多铸造金属部件及声波衰减性极强的材料进行测量。

应用设置调用

应用设置调用功能简化了厚度测量操作。用户在选择了任何一个存储探头后，45MG测厚仪即会调出所有与这个内置探头相关的参数。

存储的标准设置

45MG仪器带有21个标准单晶探头设置，可用于ZUI常用的测量操作。这些默认探头设置可用于各种各样的厚度测量应用。

存储的自定义设置

45MG还可存储ZUI多35个自定义单晶探头的设置，其中还包括校准信息。用户可以连接适当的探头，并调用设置文件，然后仪器便可进行厚度测量，甚至还可完成ZUI复杂的测厚应用。

材料声速测量

45MG仪器可以测量材料的声速。在材料声速与其它属性密切相关的应用中，这个标准功能非常有用。典型的应用包括监控铸造金属的球化程度，以及监控复合材料/玻璃纤维的密度变化。

缩减率测量

差值模式和缩减率模式是45MG的标准功能。差值模式显示实际厚度与预先设定的厚度值之间的差异。缩减率计算并显示材料厚度变薄以后厚度缩减的百分比。对经过弯曲变形并将制成车身面板的薄钢板进行的缩减率测量是一个典型的应用。

使用20 MHz延迟块探头测量薄塑料材料。

使用V260-SM Sonopen探头对薄玻璃进行测量。

测量金属板因弯曲变形而变薄的情况。

可测量包括塑料、金属、橡胶、玻璃、陶瓷及复合材料在内的很多材料的厚度。

单晶高穿透软件选项

用户使用这个选项可在使用低频单晶探头（低到0.5 MHz）的情况下，测量橡胶、玻璃纤维、铸件及复合材料等较厚或声波衰减性较强的材料。这个选项包含单晶选项。

l大多数较厚或声音衰减性较强的材料

l厚铸造金属部件

l厚橡胶轮胎、履带

l玻璃纤维船体、储存罐

l复合材料板

l对于频率范围为0.5 MH到1.0 MHz的探头，分辨率为0.01毫米（0.001英寸）

产品规格

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