涂层测厚仪
涂层测厚仪TT240
2018-12-03 15:48  浏览:527
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TT240覆层测厚仪|薄膜测厚仪是一种手持式测量仪,它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;可广泛用于在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;是材料保护**的仪器。符合以下标准:§ GB/T 4957-1985 涡流方法 § JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》 § JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪特点§ 采用了涡流测厚法,可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度(如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层) § 具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE) § 具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL) § 设有五个统计量:平均值、值(MAX)、小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差 § 可进行零点校准和二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正 § 具有存贮功能:可存贮350个测量值 § 具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据 § 可设置限界:对限界外的测量值能自动报警 § 具有打印:可打印测量值、统计值 § 具有与PC机通讯的功能:可将测量值、统计值传输至PC机,以便对数据进行进一步处理 § 具有电源欠压指示功能 § 操作过程有蜂鸣声提示 § 具有错误提示功能 § 具有自动关机功能 技术参数§ 测头类型:N § 测量原理:电涡流 § 测量范围: 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬) § 低限分辨力:1µm(10um以下为0.1um) § 探头连接方式:分体式导线连接 § 示值误差: 1. 一点校准(um):±[3%H+1.5] 2. 两点校准(um):±[(1%~3%)H+1.5] § 测量条件: 1. 小曲率半径(mm):凸3 | 凹10 2. 基体小面积的直径(mm):ф5 3. 小临界厚度(mm):0.3 § 温湿度:0~40℃ | 20%RH~90%RH § 统计功能:平均值、值(MAX)、小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差 § 工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl) § 测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE) § 上下限设置:无 § 存储能力:350个测量值 § 打印/连接计算机:可选配打印机/能连接电脑 § 关机方式:手动和自动 § 电源:二节AA型碱性电池 § 外形尺寸:152×47×35mm § 重量:370g 基本配置§ 主机 § 铝基体 § 标准片一套|五片 § 二节AA型(5号)1.5V电池 § 仪器保护套 § 使用说明书
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公司:上海崇众电子设备有限公司
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姓名:胡荣(女士)
电话:021-31265180
传真:021-55232925
地区:上海
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