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N7788B 光元器件分析仪主要特性与技术指标主要优势通过单次扫描实现精度： 无需通过多次扫描计算平均值高测量速度：10 秒之内即可完成 C/L 频带中的完整测量（无需等待多个平均值）稳定性不受光纤移动/振动和漂移的影响描述安捷伦制定了使用 N7788B 元器件分析仪进行元器件测量的限制， 其专有技术可与的琼斯矩阵本征法（JME）相媲美，琼斯矩阵本征法是测量光器件的偏振模色散（PMD）或差分群时延（DGD）的标准方法。安捷伦新的单次扫描技术具有一系列优点，可用于测试全套参数：DGD/ PMDPDL功率/损耗TE/TM 损耗二阶 PMD主偏振态（PSP）琼斯和米勒矩阵用于生产车间的设计高吞吐量： 在 10 秒钟内对 C 和 L 频带进行全面分析软件驱动程序： 为系统的外部控制提供一系列软件驱动程序。 这有助于通用 ERP 系统中的轻松集成。远程控制： 支持通过 LAN 或互联网对仪器进行控制， 实现自动操作和故障诊断。报告生成： 支持生成 PDF 格式的报告。 用户可以配置所有的内容（包括版图）。实时功率读数： 提供实时功率读数（支持新器件的光纤耦合），可以对非连接的器件进行高吞吐量测量。条形码扫描仪： 支持使用条形码扫描仪快速传输被测器件的序列号。备注： 本公司长期*经营光通讯及电子测试仪器的维修、保养、租赁、销售业务；现金回收工厂报废仪器；主营仪器有光功率计及光功率模块、光示波器/眼图仪，光谱分析仪、光波长计、光衰减器、光探头、光开关、光源模块、宽谱光源、可调激光器、误码分析仪、偏振控制器、回损仪及回损模块；以及其他二手进口仪器的出售/维修/收购业务，有意请与我联系，欢迎来电咨询服务13600160663。#######