综合测试仪
晶片综合测试仪
2018-12-03 12:26  浏览:943
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一、功能用途:适用于半导体各种封装形式测试金铝线黏合力;及COB封装、光电LEDSMT组装 原件与基板黏合测试;二、应用范围:钩针拉线( Max:10Kg )      镊子拉力( Max:5Kg )      焊球推力( Max:250g )芯片推力( Max:100Kg )锡球推力( Max:5Kg )管脚拉力测试( Max:10Kg )等。三、技术参数:1、拉力测试测试范围可在0-100G;0-1KG;0-10KG进行选择;2、推球测试测试范围可在250G 或 5KG进行选择;3、芯片或CHIP推力测试范围可在测试到0-100公斤; 0-200KG进行选择;4、镊子撕力测试头量程为100G 和5KG进行选择;5、BGA拔球到0-100G;0-5KG进行选择;6、另外的选项如矢量拉伸和自动测试等……7、设备外形尺寸: 长: 730mm 宽: 425mm 高: 670mm8、重     量:45kg
联系方式
公司:深圳市科兴精密仪器有限公司
状态:离线 发送信件 在线交谈
姓名:张先生 szkexing@126.co(女士)
电话:0755-84716026
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传真:0755-84716095
地区:广东-深圳市
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