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1MHz～3GHz，以10kHz分档阻抗测量范围宽，从200mΩ到3kΩ在低试信号电平上具有优良的测量重复性基本精度为1%高速测量:10ms安捷伦4287A射频LCR测试仪在1MHz～3GHz频率范围可以提供精确、可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反射测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行精确测量。生产率高、质量可靠安捷伦4287A适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量速度非常快。此外，在小测试电流(100mA)处优良的测试重复性还可以显著提高生产率，因为所需的取平均过程非常短。系统组建简单