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描述 技术参数 1、仪器尺寸：640（W）x474（D）x412（H）mm 2、样品腔尺寸： 小样品腔：300*300*100mm； 大样品腔：无限制，小于30公斤 3、重量：约50Kg 4、工作环境温度：温度15—30℃ 5、工作环境相对湿度：≤85%（不结露） 6、可分析元素范围：K-U 7、低检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm，Pb≤5ppm 8、测量时间：200-400s（系统自动调整） 9、分辨率：149±5eV 10、输入电源：AC 220V～240V，50Hz 11、额定功率：300W 1、探测器 类型：电制冷Si-PIN探测器 （采用PIN结构的*电致冷半导体探测器） 规格： Be窗厚度：1mil DC5V电源供电，USB超高速信号输出， 25平方面积晶体，信号处理稳定快速； 分辨率能达到149eV； 2、X光管 电压：0~50 KV 电流：1.0 mA 功率：50 W 灯丝电压：2.0V＆50 KV/1mA 灯丝电流：1.7 A 射线取出角：12° 靶材：Mo Be窗厚度：0.5mm 3高压电源 输入电压：DC＋24V±10% 输入电流：4.0A（） 输出电压：0-50KV＆1mA 功率：50W 电压调整率：0.01%（从空载到满载） 电流调整率：0.01%（从空载到满载） 纹波系数：0.1%（P-P值） 8小时稳定性：0.05% 小样品腔尺寸（闭仓门测试）：300*300*100mm 大样品腔尺寸（开仓门测试）：无限制，部分取代手持式功能