分析天平
*ME204E 梅特勒分析天平(外校)
2018-11-20 17:50  浏览:284
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ME204E 梅特勒分析天平(外校)



梅特勒-托利多的称量技术确保获得准确、可靠的结果。 ME 天平提供快速而可靠的结果。 内部校正提供快速的一键式天平校正方式。


易于操作:易于使用的界面可直接进入各种应用程序和日常校准。 辅以清洁方便的特点,您的日常任务将变得快捷而*。


坚固*的天平不仅在您执行日常任务中操作简便,可快速获得结果,而且易于清洁,配备前置水平调节脚,仅需按动一键就可以进行内部校准。


ME 天平设计坚固。 坚固的金属机架和*材料可确保您在未来多年中始终能获取*的精确结果。


秤量:220.0 g
可读性:0.0001 g
重复性:0.08 mg
秤盘直径:90.0 mm
线性误差:0.0002 g
分辨率:0.0001 g



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