分析天平
梅特勒 XS105DU 分析天平
2018-11-20 17:43  浏览:454
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XS105DU分析天平展示的称量性能、无与伦比的符合人体工学的操作体验及*的数据管理解决方案。 它们完全遵循行业法规的要求,确保更高的生产效率并使操作更安全。采用*、高分辨率后置式传感器(sensor)技术参数:量程:双量程可读性: 0.01/0.1mg称量值: 41/120g称量值重复性:(s) 0.1mg重复性(s): 0.02mg线性: ±0.2mg典型称量时间: 6s防风罩有效高度(mm): 235秤盘尺寸(mm): 78×73天平外形尺寸(W×D×H)(mm): 263×453×322主要特点:?采用*、高分辨率后置式传感器(sensor),以获得准确称量结果?全自动校准技术(FACT)-温度漂移触发的天平自动内校(内部校准),内置两组砝码实现线性误差校准,确保称量结果的准确性?变量程设计(DeltaRange)和双量程(DualRange)设计,满足客户对不同样品的称量需求?革命性的网格称量盘(SmartGrid)、悬浮在称量室中的后挂称量设计,获得快速、稳定的称量结果?易巧称量组件(ErgoClips),方便客户使用不同去皮容器进行称量?触摸屏技术(Touch screen),方便天平称量菜单和参数设置?可移动的显示控制终端,方便天平使用?完全可拆卸的防风罩设计,实现天平的快速清洁?内置RS232(串口)通讯接口,方便连接打印机、电脑等外围设备?优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求?具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序?e-Loader II软件,实现更便捷的天平软件更新#
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公司:上海天河环境技术有限公司
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