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CST-50型冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口质量而设计、开发的一种*光学仪器，与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，对比直观，操作简单，*。是理化试验室的**设备。技术参数：投影屏：200×200mm放大倍数：50X光源：12V 100W（卤钨灯）电源：220V 50Hz 150W外型尺寸：515×224×603mm重量：约18Kg