测量显微镜
Leica DCM 3D双核心3D测量显微镜
2018-11-12 10:31  浏览:714
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Leica DCM 3D双核心3D测量显微镜DCM 3D系统采用双核心技术,可用于微观和超微观表面结构的快速、非侵入性测量。DCM 3D结合了共聚焦和干涉测量技术,具有高速和高分辨率的特点,分辨率高达0.1nm。共聚焦技术可测量多种不同样品材料,可同时获取共聚焦和明场图像。
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