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万濠金相显微镜用途：
万濠测量型金相显微镜是一种兼顾影像、目视与纳米高度测量多用的*、*率测量仪器，它具有电视成像与目视光学两套瞄准系统，可人工观察金属表面的金相组织结构，是集光、机、电、算、影像于一体的显微镜，以二维测量为主，也可作三维辅助测量。广泛应用于电子组件，精密模具，精密刀具，塑料，PCB加工方面，测镀膜厚度，手机玻璃等工业领域。
万濠金相显微镜特点：
1.X、Y、Z三轴0.5um分辨率；
2.具Z轴粗调/微调旋钮；
3.同轴表面光/底光量测；
4.内建偏光量测光学模块；
5.可量测透明材质纳米级高度差；
6.可选配白光纳米检测模组。
万濠金相显微镜MTM-2010M技术规格参数：
型号：MTM-2010M
工作台 金属台尺寸（mm）：260*160
玻璃台尺寸（mm):404*228
X、Y运动行程（mm）：200*100
X、Y、Z向分辨率（um): 0.5
X、Y坐标示值误差（um）： 2.5+L/100
外形尺寸（mm）：590*560*850
仪器重量：100kg
Z向行程（mm）：120
物镜放大倍数：5X 、10X 、20X 、50X
目镜放大倍数：10X
总放大倍数：50X-500X
物镜放大倍率误差：包括畸变在内的放大率误差：≦0.08%
透射照明光源：可调高亮度LED灯源
反射照明光源：可调高亮度LED灯源
单层透明膜厚度测量模组
*测量模式
厚度测量范围 100nm-300nm 300nm-500nm 500nm-3um
分辨率 5nm 5nm 7.5nm
快速测量模式
厚度测量范围 3um-20um
分辨率 0.1um