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Tomo X射线断层扫描复合式三坐标测量机德国Werth测量技术公司创立于1951年，总部位于德国的大学城吉森。世界上个数显游标卡尺就出自Werth。TOMO X-CT测量机，全球家将X射线扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现产品无损可视化准确测量，并可选配光学、光纤、探针、激光扫描等多种传感器。对工件内外部所有结构尺寸全面的高精密测量，同时可实现工件材质的缺陷分析。可对塑料、陶瓷、复合材料、金属等多种材质制成的产品进行无损尺寸测量和装配评估等。压缩测量周期的同时，保证了*的要求。此机荣获2005年度欧洲模具设计金奖。Tomo测量机主要特点：◆ 全球一家将X射线断层扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现复杂部件*内外尺寸全面测量◆ 可选配第二个Z轴，配置其他传感器（光学、探针、光纤、激光等）◆ Werth公司技术复合式传感器技术，进一步保证CT测量数据更准确◆ 坚固的花岗岩基座，保证机器具有高稳定性◆ 高精密机械轴承技术及线性导轨系统，确保实现*的测量◆ 无论从设计还是结构，测量机完全满足并超出X射线使用安全标准◆ 基于Werth公司优异的图形处理及3D重构技术，测量速度更快◆ Werth公司技术的X射线传感器独立校准系统◆ Werth公司技术的栅格断层扫描技术： 精密测量微小部件 扫描更大尺寸工件，提高分辨率 扩展测量范围◆ 测量软件可快速3D重构，也可进行2D测量◆ 测量工件内部尺寸的同时，也可实现材质缺陷分析◆ 选用全球广泛应用的WinWerth软件 (德国计量院PTB长度标准认证) ，界面友好，操作简单◆ 可使用拟合Bestfit及公差拟合Tolerancefit软件进行轮廓匹配分析及三维CAD工件公差比对◆ 广泛应用于复杂尺寸测量，首件评估，逆向工程，质量控制等应用领域: 模具行业、逆向工程、汽车行业、航空航天、精密机械加工、船舶等技术参数：型号TomoScopeTomoCheckTomoScopeHV CompactTomoScope HV测量工件尺寸(直径)90mm90mm350mm350mm测量高度200mm200mm350mm500mm允许误差(用CT传感器)(45+L/75) µm(15+L/500) µm(45+L/75) µm(45+L/75) µm允许误差(E1:单轴精度)(25+L/120) µm(05+L/900)µm(25+L/120) µm(25+L/120) µm(E2:平面精度)(29+L/100) µm(07+L/600) µm(29+L/100) µm(29+L/100) µm(E3:空间精度)(45+L/75) µm(15+L/500) µm(45+L/75) µm(45+L/75) µmX射线源130kV(150190kV可选)130kV225kV225kV(450kV可选)X射线探测器像素1024x10241024x10241024x10242048x2048X射线探测器尺寸50x50mm50x50mm200x200mm400x400mm分辨率0.1µm0.1/0.01µm0.1µm0.1µm定位速度150mm/s60mm/s150mm/s150mm/s加速度300mm/s2250 mm/s2350 mm/s2350 mm/s2工作台承重2kg10kg40kg40kg电源230V +/-10%3x400V/N/PE3x400V/N/PE3x400V/N/PE气压7-10bar7-10bar7-10bar7-10bar仪器自重3000kg6000kg8500kg11000kg1). 依据标准ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用TP200 WFP测量或CT传感器选择同等及更*探针修正或光学传感器选用同等及更*探针修正2). Temp: 20℃±2k △=1K/h m≤2kg应用实例：