X荧光光谱仪
镀层测厚仪,X荧光光谱仪
2018-11-10 12:38  浏览:146
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产品性能

1、小准直器:≤0.1,可以进行小样品测试(小点)的测试,从而提高测试的准确率和精确度。

2、高度激光:自动定位高度,可满足不规则表面样品的测试

3、高分辨率探头:提高分析的准确性。

产品配置

X光金属镀层测厚仪标准配置为:X射线管,正比计数器半导体探测器,高清摄像头,高度激光,信号检测电子电路。

性能指标

X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管,Be窗

标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等

X射线管:管电压50KV,管电流1mA

可测元素:Ti~U

检测器:正比计数管

样品观察:CCD摄像头

测定软件:薄膜FP法、检量线法

Z轴程控移动高度 20mm

产品应用

X光金属镀层测厚仪主要应用于金属镀层(镀镍、镀锌、镀锡、镀铜、镀铑、镀钯、镀银、镀金、镀铬等)厚度测试,广泛应用于线路板、板材、汽车配件、五金工具、弹簧、电子连接器、五金端子、螺丝、半导体封装材料等产品镀层厚度测量。

联系方式
公司:江苏天瑞仪器股份有限公司
状态:离线 发送信件 在线交谈
姓名:孙经理(先生)
电话:400-7102-888
手机:15306134234
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