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产品名称:X荧光光谱仪规格型号:HD-3642概述 X荧光光谱仪是由本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的原系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等的基础上研制推出的一种达到国际*水平的分析仪器。它采用波长色散X射线荧光分析技术(WDXRF)，多道同时测量从Na到U的任意十种元素，对大多数元素分析的含量可低至ppm高至。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作人员劳动强度低、只需一次性投资、无污染等特点，故广泛应用于建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。 X荧光光谱仪关键部件采用进口产品，如X射线管采用Varian公司生产的400W薄铍端窗X射线管，Na、Mg等轻元素道探测器窗采用Moxtek公司生产的0.6μm*聚酯窗，恒温室温度控制精度小于0.1℃，流气系统采用*流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa，由此使本光谱仪具有极高的精度和准确度，达到国际*水平。本光谱仪屏蔽防护的良好设计保证无任何射线泄漏，满足辐射豁免要求。 X荧光光谱仪应用于我国水泥行业尤其显示出其优越性。由于该款仪器是为水泥行业专门开发的，完全满足推荐标准GB/T176-2008《水泥化学分析方法》和建材行业推荐标准JC/T1085-2008《水泥用X射线荧光分析仪》，其性能对水泥行业来说比进口同类产品更好，而价格仅为进口同类产品的几分之一，具有无可比拟的价格性能比。另外国内企业售后服务的方便程度是国外企业所无法相比的。主要技术指标1.分析元素或其氧化物种类:从Na到U的任意十种元素及其氧化物，以水泥为例（下同）具体是：Na2O，MgO， Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等。2.分析范围宽度：“控制目标值±2.5%”的范围内，由所标定的曲线决定。3.系统分析时间：典型值：180秒。4.精密度：谱线强度的变异系数：εSiO2＜0.40%，εSO3＜2.0%，εCaO＜0.15%。5.稳定性：谱线强度的极差：RSiO2＜1.5%，RSO3＜5.0%，RCaO＜0.5%。6.线性：含量的误差：ENa2O＜0.035%，EMgO＜0.10%，EAl2O3＜0.14%， ESiO2＜0.14%，ESO3＜0.10%，ETiO2＜0.035%， EK2O＜0.07%，ECaO＜0.18%，EFe2O3＜0.10%。7.X射线管功率：400W（50KV，8mA）。8.恒温室温度：36℃±0.1℃。9.使用条件：环境温度：15~+28℃，相对湿度：≤75%(25℃)，电源：220V±20V，50Hz。10.整机功耗：<50W。11.尺寸及重量：长×宽×高：790mm×760mm×1200mm，重量：195kg。水泥标准样品测量结果XS1标样Fe2O3SiO2SO3Al2O3CaOK2OMgONa2O标准值1.9614.430.244.2739.840.302.590.09平均示值1.9514.340.264.3139.950.292.510.07示值1.9614.390.274.3639.980.292.540.07小示值1.9414.290.264.2939.920.292.500.07极差0.020.10.010.070.0600.040示值标准偏差0.0050.02#